高效率：采用高速同步运动控制技术，全方位满足IC产品高效检测需求
高检出率：基于特征机器学习算法有效识别细微缺陷，提高缺陷检出率
智能性：提供处方辅助编辑功能，提升人员效率，缩短新产品导入周期
全面性：支持IC各工序的全自动检验，具备良好的物料兼容性
工厂自动化：支持SECS/GEM SEMI标准，全面满足工厂自动化需求
微信公众号
合肥地址：安徽省合肥市高新区华佗巷469号1号楼
上海地址：中国(上海)自由贸易试验区祖冲之路899号11栋
合肥电话：0551-65116087
上海电话：021-50935077
Email: yuweitek@wnnae.cn